北京(jing)中科光析(xi)科學技術研(yan)究所可依據GB/T 2423.16-2008、GB/T 2423.4-2008等相應(ying)電工電子(zi)產(chan)品環(huan)境試(shi)驗(yan)標(biao)準進行砂塵試(shi)驗(yan)、低氣(qi)壓試(shi)驗(yan)等各種分析(xi)測試(shi)服務，亦可根(gen)據客戶(hu)(hu)需(xu)求設計方案(an)，為客戶(hu)(hu)提供(gong)非標(biao)檢(jian)測服務。檢(jian)測周期：常規到樣后7-15個工作(zuo)日(ri)出具電工電子(zi)產(chan)品環(huan)境試(shi)驗(yan)報告

　　檢(jian)測費用(yong)：樣品初檢(jian)后結合(he)客(ke)戶檢(jian)測需求以(yi)及實驗復雜程度進行報價(jia)

　　樣(yang)品量(liang)大小：具體樣(yang)品量(liang)需要根(gen)據客戶的檢測項目來決定，詳情您可以咨(zi)詢工程師

檢測項目

　　低(di)溫(wen)、高(gao)溫(wen)、交變濕熱(12h+12h循(xun)環)、穩態加(jia)速度測試(shi)(shi)(shi)、鹽霧試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)、砂塵試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)、低(di)氣壓試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)、錘擊試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)、錫焊試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)、振(zhen)動、沖擊和類似動力學試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)、振(zhen)動試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)、綜合試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)【溫(wen)度(低(di)溫(wen)、高(gao)溫(wen))/低(di)氣壓/振(zhen)動(隨機)綜合】等。

電工電子產品環境試驗標準

　　CEI EN 60068-1-2014 電工電子(zi)產品(pin)環(huan)境(jing)試(shi)驗 第(di)1部分：總則

　　GB/T 2422-2012 環境試(shi)驗 試(shi)驗方(fang)法(fa)編寫導則 術語和定(ding)義

　　GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chan)品環(huan)境試驗 第2部分(fen)：試驗方法 試驗A： 低溫

　　GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法(fa) 試驗B：高溫

　　GB/T 2423.4-2008 電工電子(zi)產品環境試(shi)(shi)(shi)驗 第2部分：試(shi)(shi)(shi)驗方法 試(shi)(shi)(shi)驗Db 交變濕(shi)熱(12h+12h循環)

　　GB/T 2423.15-2008 電工電子產品環境試驗(yan) 第2部分: 試驗(yan)方(fang)法 試驗(yan)Ga和導則: 穩(wen)態加速度(du)

　　GB/T 2423.17-2008 電工(gong)電子產(chan)品環境試(shi)驗 第2部分(fen): 試(shi)驗方法 試(shi)驗Ka：鹽霧(wu)

　　GB/T 2423.21-2008 電工電子產品環境試(shi)(shi)驗(yan) 第2部分(fen)：試(shi)(shi)驗(yan)方(fang)法(fa) 試(shi)(shi)驗(yan)M GB/T 2423.28-2005 電工電子產品環境試(shi)(shi)驗(yan)第2部分(fen)：試(shi)(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)試(shi)(shi)驗(yan)T：錫焊

　　GB/T 2423.32-2008 電工電子(zi)產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ta: 潤濕(shi)稱量法可焊性

　　GB/T 2423.37-2006 電工(gong)電子產品環境試(shi)(shi)驗(yan)(yan) 第(di)2部分：試(shi)(shi)驗(yan)(yan)方法(fa) 試(shi)(shi)驗(yan)(yan)L：沙塵試(shi)(shi)驗(yan)(yan)

　　GB/T 2423.43-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 振(zhen)動、沖擊和(he)類(lei)似(si)動力學試驗樣(yang)品的安裝

　　GB/T 2423.52-2003 電工電子產品環境試驗(yan)第2部分：試驗(yan)方法 試驗(yan)77：結構(gou)強度與(yu)撞擊

　　GB/T 2423.53-2005 電工電子產品(pin)環(huan)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Xb：由手(shou)的磨擦(ca)造(zao)成(cheng)標記和(he)印(yin)刷文字的磨損

　　GB/T 2423.55-2006 電(dian)工電(dian)子產品環(huan)境試(shi)(shi)(shi)驗(yan) 第2部分(fen)：環(huan)境測試(shi)(shi)(shi)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)Eh：錘擊(ji)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)

　　GB/T 2423.57-2008 電(dian)工電(dian)子產品環境試驗(yan) 第2-81部分(fen): 試驗(yan)方(fang)法(fa) 試驗(yan)Ei: 沖擊(ji) 沖擊(ji)響應譜合成

　　GB/T 2423.58-2008 電(dian)工電(dian)子產品環境試(shi)(shi)驗(yan) 第(di)2-80部分: 試(shi)(shi)驗(yan)方法 試(shi)(shi)驗(yan)Fi: 振動(dong) 混合模式

　　GB/T 2423.59-2008 電(dian)工電(dian)子產(chan)品(pin)環境試驗(yan) 第2部分：試驗(yan)方法 試驗(yan)Z/ABMFh：溫度(低溫、高溫)/低氣壓(ya)/振動(隨機)綜合

　　GB/T 2423.60-2008 電工電子(zi)產品環境試驗(yan) 第2部分：試驗(yan)方法 試驗(yan)U：引(yin)出(chu)端及整體(ti)安裝件強(qiang)度

　　GB/T 2423.101-2008 電工電子產品環(huan)境(jing)試驗 第(di)2部分：試驗方法 試驗：傾(qing)斜和搖(yao)擺

中析報告注意事項

　　· 報告無服務方簽字(zi)人簽名無效(簽名應(ying)均(jun)為同(tong)一人);

　　· 未加蓋“北京中科(ke)光析科(ke)學技術研究(jiu)所”科(ke)研測試(shi)專用章無(wu)效;

　　· 報(bao)告復(fu)印、私自轉讓(rang)、盜用、冒用、涂改(gai)、以及其(qi)他任何(he)形式篡改(gai)均屬無效;

　　· 委托方需保(bao)證樣品(pin)來源信息(xi)的真(zhen)實性;

　　· 報(bao)告真偽：可(ke)(ke)掃防偽碼查詢(xun)，或(huo)可(ke)(ke)在(zai)中析研究所(suo)官(guan)方網站“報(bao)告查詢(xun)”入口搜索報(bao)告編號(hao)進行(xing)查詢(xun);

　　· 24小時保持(chi)通訊(xun)，報告(gao)有任何疑(yi)問，請(qing)致(zhi)電咨詢。

檢測準備

　　1、與(yu)客戶進行積極有效的溝(gou)通(tong)，了解(jie)客戶樣品的檢測(ce)需(xu)求，確定客戶所需(xu)服務的基(ji)本信息(xi)，并及(ji)時溝(gou)通(tong);

　　2、根據材料樣品，數(shu)量及檢(jian)測的項目需(xu)求，郵寄樣品到我所;

　　3、結(jie)合(he)樣品的數量(liang)、周期(qi)等(deng)信息，出詳細的服務(wu)報(bao)價(jia)單。

檢測實施

　　1、內容：根據樣品(pin)及客戶的檢測需求(qiu)設(she)計方案進行檢測;

　　2、成果：樣(yang)品檢測完成后對數(shu)據進行審核

　　3、整理(li)數據，給客戶郵(you)寄(ji)紙(zhi)質(zhi)報告(gao)/發送(song)電子(zi)報告(gao)。

　　以上是關(guan)于電(dian)(dian)工電(dian)(dian)子產品環境試(shi)驗相關(guan)介(jie)紹,周(zhou)期、方法、步驟以工程師為(wei)準，如樣品特殊可與工程師交流(liu)溝通(tong)樣品特性，為(wei)您設計合理(li)的檢測分析方案(an)，節約(yue)您的時間。

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