中析研(yan)究所可(ke)依據(ju)相應半導體(ti)(ti)噪聲(sheng)測試標(biao)準進(jin)行(xing)分析測試服務，亦(yi)可(ke)根據(ju)客(ke)戶(hu)需(xu)求(qiu)設計方案，為客(ke)戶(hu)提(ti)供非標(biao)檢(jian)(jian)測服務。半導體(ti)(ti)噪聲(sheng)測試費用：樣(yang)品(pin)初檢(jian)(jian)后結(jie)合客(ke)戶(hu)檢(jian)(jian)測需(xu)求(qiu)以及(ji)實驗復(fu)雜程度進(jin)行(xing)報價，樣(yang)品(pin)量大小：具體(ti)(ti)樣(yang)品(pin)量需(xu)要根據(ju)客(ke)戶(hu)的(de)檢(jian)(jian)測項(xiang)目來決定，詳情您可(ke)以咨詢工程師。

半導體噪聲測試項目

　　噪(zao)聲譜(pu)密度(du)、系數、指(zhi)標、溫度(du)、功(gong)率、相(xiang)關(guan)、幅(fu)度(du)、頻(pin)譜(pu)、帶寬、功(gong)率譜(pu)、相(xiang)位、時域、頻(pin)域測量(liang)等。

試驗范圍

　　半導體噪聲測(ce)試樣品一(yi)般包括：

　　器件樣品：晶體管(guan)、二極管(guan)、集成電(dian)路(lu)、功率放大器、運(yun)算放大器、傳感器、光電(dian)器件等。

　　光(guang)學器件(jian)樣品(pin)：激(ji)光(guang)二(er)極管(guan)、光(guang)電二(er)極管(guan)、光(guang)纖(xian)接(jie)收器、光(guang)纖(xian)放大(da)器、光(guang)學調制器、光(guang)學濾波器等。

　　電子元件樣品：電阻器、電容器、電感器、變壓(ya)器、濾(lv)波器、開關、繼電器等。

　　傳(chuan)感(gan)(gan)器樣品：溫度(du)傳(chuan)感(gan)(gan)器、壓力(li)傳(chuan)感(gan)(gan)器、光(guang)敏傳(chuan)感(gan)(gan)器、加速度(du)傳(chuan)感(gan)(gan)器、聲(sheng)音(yin)傳(chuan)感(gan)(gan)器、濕度(du)傳(chuan)感(gan)(gan)器等。

相關儀器

　　半導(dao)體噪聲(sheng)測(ce)試涉及(ji)的儀器設備包括：

　　器(qi)件噪(zao)(zao)聲測試儀器(qi)：噪(zao)(zao)聲分(fen)析儀、功(gong)率(lv)譜分(fen)析儀、噪(zao)(zao)聲系數測量(liang)儀、噪(zao)(zao)聲功(gong)率(lv)測量(liang)儀

　　器件(jian)非線性測試儀(yi)器：信號(hao)源、頻譜(pu)分析儀(yi)、功率譜(pu)分析儀(yi)、互(hu)調失真分析儀(yi)

　　器件功耗測(ce)試儀器：直流電源、功率分析儀、功率譜分析儀、功耗效率測(ce)量儀

　　器件(jian)時(shi)(shi)鐘抖動測(ce)試儀(yi)(yi)器：頻率計、頻譜分析儀(yi)(yi)、時(shi)(shi)鐘抖動測(ce)量儀(yi)(yi)、抖動峰峰值測(ce)量儀(yi)(yi)

相關標準

　　BS EN 60749-16-2003 半導(dao)體器件(jian) 機械和氣候試(shi)驗方法 第(di)16部(bu)分:顆粒(li)沖擊噪(zao)聲檢測(PIND)

　　CEI EN 60749-16-2005 半導體器件.機械(xie)和氣候試驗方法.第(di)(di)16部分:粒子沖(chong)擊噪聲檢測(PIND).第(di)(di)一(yi)版

　　DIN EN 60749-16-2003 半導體器件 機(ji)械和氣候試驗方法(fa) 第16部(bu)分:部(bu)分沖擊噪聲檢(jian)測(PIND)

　　GB/T 16850.3-2021 光(guang)放(fang)大(da)器試驗方(fang)法 第3部分(fen)：單波道光(guang)放(fang)大(da)器噪(zao)聲參數

　　GOST 18986.23-1980 半導體穩壓管 噪聲光譜(pu)密度測(ce)量方法

　　GOST 19656.5-1974 超(chao)高頻混頻和檢波半導體二極(ji)管 噪(zao)聲比(bi)測量方(fang)法(fa)

　　GOST 19656.6-1974 超高頻(pin)混頻(pin)半(ban)導體二極管 標準噪聲系數測(ce)量方法

　　IEC 60747-18-4-2023 半導體器(qi)(qi)件.第18-4部分：半導體生物傳感(gan)器(qi)(qi).無透鏡CMOS光(guang)子(zi)陣列傳感(gan)器(qi)(qi)噪聲(sheng)特(te)性(xing)的評估方法

　　PNS IEC 60749-16-2013 半(ban)導(dao)體(ti)器件(jian) 機(ji)械和氣候試(shi)驗方法 第16部分(fen)(fen):部分(fen)(fen)沖擊噪(zao)聲(sheng)檢測(PIND)

　　SJ/T 11846-2022 電壓調整器低頻噪聲參數測試方法

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